K-ONE (代表申勇镇， www.konetrad.co.kr) 将参加于19日（三）到 21日（五）在仁川松岛国际会展中心举办的‘2014国际胶黏剂·涂料·薄膜产业展示会(ATEM FAIR 2014，以下简称ATEM)’，展示激光粒度分析仪、散（表面）密度、丝锥密度、自动形象粒度分析仪、数码安息角测量仪等。
（照片说明：纳米粒度分析(Nano Particle Size Analyzer) Scatteroscope 1(SOS1)）
纳米粒度分析仪’Scatteroscope 1(SOS1)’是国产产品，具有1~7000nm的测量范围、高分析能力和再现性、测量方法是采用DLS（动态光散乱）法。可以测量高浓度的试料测量，在没有物性变化的情况下可以测量原料状态的粒度。此外，基本安装Stirrer解决了沉淀、凝聚、分散问题。
激光粒度分析仪’BT-2000’的测量范围是0.02~2000um，再现性和正确度是1%以内，测量方法采用未(Mie)散乱及折射理论。
由于基本设置了标准测量模式(SOP)功能，所以可以自动进行提供水、分散、循环、样品浓度自动调节、测量、排水、洗涤、测量结果储存及输出。
通过这些设定其条件时，不同的使用者也能够在同样的条件下测量，利用标准物质可以检查、矫正机器，能够进行高信赖的测量。3-D automatic focusing system具备了自动精密alignment功能，通过这种功能可以提高机器的正确度和信用度。
智能型分体测量仪可以在一个机器中测量’BT-1001’是安息角、退变角、차각、平面底板角、散密度、丝锥密度、压缩度、uniformity、flowability index、Jet flow Index、sieve size等。内设Thermal Printer，机器和电子秤相互连接，空杯子的重量和样品投入后的样品重量在机器中测量后可以打印结果，采用Flash Disk可以传送编制。
由于具有SOP(Standard Operation Procedure)标准测量模式，所以可以获得正确、方便的再现性结果。此外，利用高倍率CCD照相机照下来散粉的照片，用每个数字来表现其形象和角度。
K-ONE是纳米粒度分析仪国产制造公司，使用Bettersize Instrument的 Agent来制作及销售激光粒度分析仪、纳米粒度分析仪、形象粒度测量仪、分体特性测量仪、表面密度测量仪、丝锥密度测量仪、安息角测量仪等。本产品应用在金属、非金属粉的应用领域及制药、农药、食物材料、研磨材料、混泥土、陶瓷、土、颜料、汽油勘察、地质学、电子材料、化学材料和无机材料、电池产业等。
今年正值第6回的“ATEM”，作为胶黏镀膜以及各种功能性薄膜的研究开发和制造所需的技术、材料、附件、R&D装备，甚至包括完成品都能看到的国内唯一的B2B商务展示会，“2014国际表面处理·镀金·涂装技术产业展(SRUTECH KOREA 2014)”将同期举办。另外，中国涂料产业的代表媒体 “中国涂料在线”也受到邀请，将预计对参展企业进行信息支援，向中国市场进行展会现场新闻报道。
此外，全球新闻网络AVING News，作为这次展会的全球媒介，将会通过韩、中、英三种语言进行报道。不仅是国内，全球市场也可以生动地传达。
